半导体测试仪器

半导体测试设备

我们提供主流的半导体测试仪器仪表销售

高精密数字源表TH1991/1992系列

TH1991/TH1992系列精密源/测量电源，可同时输出并测量电压和电流，在仪器中集成了电流源、电压源、电压表、电流表功能，各功能可任意切换。TH1991/TH1992系列精密源/测量单元可输出高达±210V直流电压、±3A直流电流以及±10.5A脉冲电流、最小10fA/100nV的电源和测量分辨率，支持高速采样，可生成任意波形。

高精密LCR测量仪TH283X系列

TH283X系列是新一代低预算成本，高性能紧凑型LCR数字电桥，采用最新工艺和高密度电路设计，浓缩大型LCR测试仪的精华、紧凑、小巧。仪器提供丰富的接口，兼容标准SCPI指令，可方便地组成各种测试系统，满足检验、生产、科研的各种需求

六位半数字多用表TH196X系列

TH193X系列万用表，可以满足直流电压、交流电压、直流电流、交流电流、直流电阻、电容、频率、导通、二极管、温度等参数的测量。测量速度最高1000次/s。可以应用于生产线工作台、维修工作台、教学实验室、自动化测试设备等。

高精度可编程线性直流电源TH6500系列

TH6500系列高精度可编程直流电源涵盖了6个型号（96W-216W），其最突出的优点是具有超高的精度和分辨率以及极快的电压上升速度。仪器内置一块电压表和欧姆表，方便用户测试外部电压和电阻。TH6500系列电源均为线性、程控输出设计，因此该系列电源具有纹波小、噪声低、精度高、稳定性强的卓越性能。

函数/任意波形发生器DG900 Pro系列

DG900 Pro系列函数/任意波形发生器是一款集函数发生器、任意波形发生器、噪声发生器、脉冲发生器、谐波发生器、模拟/数字调制器、频率计等功能于一身的多功能信号发生器。全新的外观及人性化的界面设计，带来友好的用户体验。

数字示波器MSO/DS2000A系列

MSO/DS2000A系列数字示波器是带宽100MHz ~ 300MHz，采样率高达2GSa/s，同时兼具深存储深度和高波形捕获率的通用数字示波器。模拟带宽: 300MHz，最高实时采样率采样率: 2GSa/s，模拟通道数:2，最大存储深度: 56Mpts，最高波形捕获率: 52,000wfms/s

频谱分析仪UTS3000B系列

UTS3000B频谱分析仪是一款便携式、功能多样的频谱分析仪，提供9kHz~8.4GHz的频率测量范围分辨率带宽低至1Hz，拥有10.1英寸多点触控显示屏采用成熟的数字中频技术，频率扫描点数高达40001 ，提供更高的分辨率。拥有频谱分析、EMI、高级测量等多种工作模式可应用于电子制造业的功能/终端/质检测试，也适用于无线通信测量，射频微波课程，电磁兼容预扫，半导体测量等众多应用场景中。

直流电源UTP3000-II系列

UTP3000-II系列直流电源是一类高性能的具有三路输出的线性直流电源。它拥有纯净的输出，优异的性能指标，应用于产品研发调试、质量控制和检测、生产自动化测试和教学实验等场景，可满足多样化的测试需求。

高精密数字源表2400系列

Keithley 标准系列 2400 源测量单元 (SMU) 仪器提供四象限精密电压和电流源/负载，外加测量。每个 SMU 仪器均同时提供高度稳定的直流电源和一台真正的仪器级 6½ 位万用表。电源特性包括低噪声、高精度和回读。万用表的功能包括高重复性和低噪声。2 线、4 线和 6 线远程 V 源和测量传感，与 KickStart 软件结合使用

高精密数字源表2600系列

Keithley 2600B 系列系统 SMU 仪器是业界标准电流-电压源和测量解决方案，适用于高度自动化生产测试应用。双通道和单通道型号都紧密集成一个精密电源、真正电流源、数字万用表和具有脉冲生成功能的电子负载。另外，TSP® 技术可运行完整测试程序，适用于自动化系统应用，TSP-链路®技术允许菊花式链接最多 64 条通道，适用于大容量并行测试。

结构紧凑，功能实用，高性价比；漏电流精度：10pA/100fa（屏蔽箱内）；整体位移分辨率10μm；应用于高等院校/研究院/公司实验室使用；1微米以上电极/PAD使用；加宽探针架，可放置多个探针座；最大可用于12英寸以内样品测试；兼容高倍率电子显微镜/体式显微镜/金相显微镜，360°旋转和微调升降；模块化设计，可以根据应用增加和去除相应模块；多被用于晶圆测试、LED测试、功率器件测试、MEMS测试、PCB测试、液晶面板测试、太阳能电池片测试、材料表面电阻率测试等。

光电半导体测试设备与技术

柯泰光芯测试技术有限公司合作经销商

VMP7000 - 晶圆量产台

VMP7000系列VCSEL晶圆量产半自动探针台系统，源于VPS7000系列的技术基础，综合统筹了量产所需要的效率、稳定性和数据整合的要求。该系列既符合经典量产探针台系统的操作习惯，还可灵活加入定制化元素，做到转产无忧和升级无忧。

DMP7000 - PD/APD晶圆量产台

背照式APD晶圆性能测试系统DMP7000，该系统由自动探针台模组、光纤耦合模组、APD测试模组、特制探针座模组、驱动及控制软件等组成，可以作为裸芯片的综合性能评测机构，该系统具备快速半自动综合检测能力，测试速度快，完全符合小批量实验室测试应用，检测精度高，适应性强。